N68000 시리즈는 완벽한 MOS 보호 회로를 갖추고 있습니다. MOS가 얼마나 손상되더라도 양극과 음극 사이, 또는 양극과 제어 회로 사이에 단락이 생기지 않습니다. 일부 MOS가 손상되어도 다른 MOS의 손상을 앞당기지 않아 계속 사용할 수 있습니다. 분산형 설계로 전력 모듈을 쉽게 교체하거나 추가할 수 있어 유지보수와 전력 확장이 편리합니다. 응답이 빠른 전력 제한 회로를 갖추어 과전력으로 인한 부하 손상을 막아 주며, 차폐 기술을 적용하여 열악한 시험 환경에도 폭넓게 대응하고 내잡음 성능을 높였습니다.

N68000 시리즈는 수동(Manual)과 잠금(Lock) 두 가지 단락 모드를 지원합니다.

수동: Short 버튼을 누르고 있는 동안 단락되며, 버튼에서 손을 떼면 단락이 해제됩니다. 수동 모드는 디버깅이나 연구개발에 적합하며 오조작으로 인한 측정 사고를 방지합니다.

잠금: Short 버튼을 누르면 단락 상태가 유지되며, 버튼을 다시 누르면 단락이 해제됩니다. 잠금 모드는 장시간 단락 시험에 적합합니다.

N68000 시리즈는 연속(Continuous), 토글(Toggle), 펄스(Pulse) 세 가지 다이내믹 방식을 제공합니다. 다이내믹 주파수는 최대 20kHz이며 조절할 수 있습니다. 이 기능은 전원의 과도 응답 성능, 배터리 보호 회로 기판의 보호 성능, 배터리 펄스 충전 시험에 주로 사용됩니다.

순간적인 고전력이 필요한 응용에서도 최대 전력 기준으로 모델을 고를 필요가 없습니다. DC 모터 기동 시뮬레이션을 예로 들면, 기동 시 순간 전력은 보통 정격 전력의 몇 배에 달합니다. 전원의 순간 과부하 성능과 동력 배터리의 순간 고전력 방전도 시험할 수 있습니다.

외부 아날로그 입력으로 부하 전압과 전류를 제어할 수 있습니다. 외부 프로그래밍 인터페이스의 0-10V 입력이 부하의 0~풀스케일 출력에 대응합니다.

전류 모니터링 출력 단자의 0-10V 아날로그 출력이 0~풀스케일 전류에 대응합니다. 전압계나 오실로스코프로 전류 변화를 모니터링할 수 있습니다.

상승·하강 슬루율을 설정하여 오버슈트를 방지하고 다양한 시험 요구에 대응할 수 있습니다. 슬루율은 N68000의 부하 주 설정값이 바뀔 때 전류 또는 전압의 전환 속도를 정의합니다. 슬루율을 최댓값으로 설정하면 주 설정값과 과도 설정값 사이의 전환 시간이 가장 짧아집니다.